[A3880] 다기능 ESR 메타 인덕터 사양 및 안내 링크 입니다.

트랜지스터 다기능 시험기에 대하여 :
이 테스터는 휴대용 디자인 인 3.7V 충전 용 리튬 배터리 (배터리 모델 : 14500)를 사용하지만, 실내에서 장시간 동안 배터리 및 시스템 전력을 충전 할 때 T-MICROUSB 출력을 사용하여보다 경제적으로 편리하게 사용할 수 있으므로 항상 새로운 배터리 경제 입력!
특징 :
하나의 핵심 측정 작업, 자동 전원 끄기 지연. 전류는 20nA에 불과하며 배터리 작동을 지원합니다.
PNP 및 NPN 바이폴라 트랜지스터, N, p- 채널 MOSFET, JFET FET, 다이오드, 두 개의 다이오드, 사이리스터, 레지스터, 커패시터, 인덕터의 자동 감지 자동 핀 코드 감지.
바이폴라 트랜지스터의 전류 이득 (B) 측정 및 라디에이터 연결 (Uf)의 전압 켜기. Darlington 트랜지스터의 이득은 높은 문턱 전압과 높은 전류에 의해 결정될 수있다.
MOSFET 바이폴라 트랜지스터 및 내부 보호 다이오드를 감지하여 화면에 표시됩니다.
MOSFET 게이트의 임계 전압 및 용량 측정.
저항의 두 측정을 지원하여 잠재력을 측정 할 수 있습니다. 전위차계가 끝까지 조정되면 테스터는 핀의 중간과 끝을 구분할 수 없습니다.
저항 측정의 분해능은 0.1 Ohm이며 최대 값은 50 m Ohm입니다.
커패시턴스의 측정 범위는 25pf ~ 100mF (100,000uF)입니다. 분해능은 최대 1pF이고 인덕턴스 측정 범위는 0.01mH-20h입니다. 그렇지 않으면 저항으로 나타나고 유도 성 직류 저항은 유럽 2100이 저항으로 표시되는 경우보다 높습니다.
이것은 커패시터 등가 직렬 저항 (ESR), 분해능 0.01 옴보다 2 마이크로 패러드를 검출 할 수 있습니다. 이 기능은 커패시터의 효율을 결정하는 데 매우 중요합니다.
두 개의 다이오드 심볼을 오른쪽 방향으로 표시 할 수 있으며 전압 강하를 나타냅니다.
다이오드 전압 강하에 대한 LED 감지는 평소보다 높습니다. 이중 LED는 이중 다이오드로 감지됩니다. 발광 다이오드의 동시 감지가 깜박입니다.
각 테스트에는 약 2 초가 걸리지 만 커패시턴스와 인덕턴스에 대한 대규모 측정에는 오랜 시간이 걸립니다.
수정 :
짧은 세 테스트 측면, 테스트에서 화면은 수정 단계를 제공합니다. 교정 시간의 짧은 끝을 끄라는 메시지가 나타나면 세 가지 테스트가 계속되며 시간이 지나면 100nF 커패시터에 1 ~ 3 피트의 액세스를 요구하면 배포에 액세스합니다 .1μF 커패시터를 교정 한 후 프로그램은 자동으로 다음 단계로 들어갑니다. 수정을 완료하기 위해 재시작이 끝날 때까지 수정.
기본 매개 변수 및 사용 :
1은 ATmega8, ATmega168 또는 ATmega328 마이크로 컨트롤러를 사용합니다.
2 개의 2x16 문자 LED 디스플레이 결과.
하나의 버튼으로 3 가지 작동 모드, 자동 전원 꺼짐.
4 꺼짐 전류 만 20nA, 배터리 작동을 지원합니다.
수정없이 5 낮은 비용 버전, 자동 전원 끄기. ATmega168 또는 ATmega328의 1.05k 소프트웨어 버전은 전력 소비를 줄이기위한 측정이 없을 때 절전 모드입니다.
PNP 및 NPN 바이폴라 트랜지스터, N, p 채널 MOSFET, JFET, 다이오드, 듀얼 다이오드, 사이리스터 SCR의 자동 감지.
7은 자동으로 핀 레이아웃을 감지합니다.
8 바이폴라 트랜지스터의 연결 이미 터 측정의 임계 전압 및 전류 이득.
높은 문턱 전압과 높은 전류 이득을 통해 9 Darlington 트랜지스터.
바이폴라 트랜지스터 10 쌍, MOSFET 보호 다이오드 테스트.
11의 임계 전압 값과 게이트 MOSFET 커패시턴스가 측정됩니다.
12. 두 가지 저항 측정을 지원하고 기호는 가장 높은 네 개의 숫자와 단위를 나타냅니다. 저항 심볼의 양쪽 끝은 테스터 번호 (1-3)에 연결된 것으로 표시됩니다. 따라서 잠재력도 측정 할 수 있습니다. 전위차계가 끝까지 조정되면 테스터는 핀의 중간과 끝을 구분할 수 없습니다.
13 저항 측정의 분해능은 0.1 ohm이며 가장 높은 측정 값은 50 m ohm입니다.
14는 커패시터를 감지하고 측정 할 수 있습니다. 최대 네 개의 숫자와 단위. 값은 25pf (8MHz 클럭, 50pF @ 1MHz 클럭)에서 100mF까지 가능합니다. 최대 1 pF (@ 8 MHz 클럭)의 해상도.
15는 등가 직렬 저항 (ESR) 측정 커패시턴스 값의 2μF 커패시터 값보다 클 수 있습니다. 분해능은 0.01 ohms이며 두 자리 디지털 표시기입니다. 이 기능을 사용하려면 최소한 16K ATMEGA 플래시 (ATmega168 또는 ATmega328)가 필요합니다.
도 16은 2 개의 다이오드의 심볼을 우측 방향으로 표시 할 수있다. 또한 전면 전압 강하가 표시됩니다.
17 다이오드 전압 강하에 대한 LED 감지는 평소보다 훨씬 높습니다. 이중 LED는 이중 다이오드로 감지됩니다.
제너 다이오드 (18)는 역방향 브레이크 다운 전압이 4.5V 미만인 경우에 검출 될 수있다. 이것은 2 개의 다이오드처럼 보이고, 전압에 의해서만 결정될 수있다. 다이오드 심볼 주변의 프로브는 동일합니다.이 경우 700mV의 임계 전압을 양극 다이오드에 가깝게 인식 할 수 있습니다!
19 개 이상의 다이오드 테스트 유형 부품의 경우 다른 메시지에 다이오드 수를 설정하지 마십시오. 이것은 다이오드가 3 개의 모든 프로브와 하나 이상의 다이오드에 연결되어있을 때만 발생합니다. 이 경우, 두 개의 프로브를 연결하고 측정을 다시 시작하면됩니다.
20은 단일 역전 용량 값을 측정합니다. 바이폴라 트랜지스터는베이스와 컬렉터 또는 에미 터를 연결하면 측정 할 수 있습니다.
21은 측정 충만도 - 브리지 연결을 찾아야합니다.
22 아래의 커패시터 25pf의 값은 일반적으로 감지되지 않지만 병렬로 연결된 다이오드 또는 병렬로 연결된 커패시터에서 적어도 25pf이다. 이 경우 션트 커패시턴스 값의 일부를 빼야합니다.
23 옴 저항은 최소 16 K ATMEGA 플래시가있는 경우 인덕턴스를 2100 미만으로 측정합니다. 범위는 20 시간보다 0 : 01mg이지만 정확도가 좋지 않습니다. 측정 결과에는 요소 단일 연결 만 표시됩니다.
24 테스트 시간은 약 2 초입니다. 커패시턴스 및 인덕턴스 측정 만이 오래 걸립니다.
25 소프트웨어를 설치하면 자동으로 전원을 끄고 횟수를 측정 할 수 있습니다.
26 50 Hz 클럭 주파수 신호를 선택하여 내장 된자가 진단 기능을 사용하여 정확성을 확인하고 통화 대기 (ATmega168 및 ATmega328).
27 추가 저항 및 측정 장비의 제로 오프셋 교정은 출력 포트 (ATmega168 및 ATmega328)의 가능성을 독립적으로 점검합니다. 전단 응력의 1 번과 3 번 사이의 아날로그 비교기를 보상하기 위해 최대 20μF의 100nF 커패시터가 연결되어 있어야합니다. 이렇게하면 커패시터보다 40 마이크로 패라드의 측정 오차가 줄어들 수 있습니다. 동일한 내부 모범적 인 커패시터의 경우, ADC의 기준 측정 이득의 내부 조정을 위해 기준 전압의 전압이 검출된다.
테스트 전류가 홀딩 전류를 초과하면 사이리스터와 트라이 액이 감지 될 수 있습니다. 그러나 일부 전류는 반도체 테스터 SCR 및 트라이 액보다 높으며 트리거 전류를 제공 할 수 있습니다. 사용 가능한 테스트 전류는 약 6 mA입니다. 모든 기능은 ATmega168 이상의 단일 칩 메모리 프로그램만을 사용했습니다.
소포 포함
1x esr 미터 (배터리 제외)
3 x 고품질 테스트 라인